CN-309961705-S - 半导体参数测试仪
CN309961705SCN 309961705 SCN309961705 SCN 309961705SCN-309961705-S
Abstract
1.本外观设计产品的名称：半导体参数测试仪。 2.本外观设计产品的用途：用于半导体器件的测试。 3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。 4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
Inventors
- 曹伟洲
- 张恒
- 李杨扬
Assignees
- 武汉微泰电子有限公司
Dates
- Publication Date
- 20260505
- Application Date
- 20251013