CN-309968452-S - 测试半导体芯片的冷却设备
CN309968452SCN 309968452 SCN309968452 SCN 309968452SCN-309968452-S
Abstract
1.本外观设计产品的名称：测试半导体芯片的冷却设备。 2.本外观设计产品的用途：用于对测试中的半导体芯片进行冷却。 3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。 4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
Inventors
- 彭彪
- 夏前川
- 王洋
Assignees
- 毫厘机电(苏州)有限公司
Dates
- Publication Date
- 20260508
- Application Date
- 20251119