CN-309974888-S - 半导体晶圆测试设备的主体
CN309974888SCN 309974888 SCN309974888 SCN 309974888SCN-309974888-S
Abstract
1.本外观设计产品的名称：半导体晶圆测试设备的主体。 2.本外观设计产品的用途：整体产品用于半导体晶圆测试的设备，要求保护的局部用于该产品的主体。 3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。 4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
Inventors
- 迈克尔·科斯特洛
- 宋微劢乐
- 吴姗蓓
- 坦纳·利森比
- 布雷米尔·帕夫洛维奇
- 詹姆斯·霍普金斯
- 安德鲁·索姆
- 游世凯
- 李源华
- 杨文�
- 布莱恩·约奇
- 凯尔·瓦特森
- 迈克尔·布鲁恩
Assignees
- 致茂电子股份有限公司
Dates
- Publication Date
- 20260512
- Application Date
- 20250916
- Priority Date
- 20250318