JP-2026077761-A - セパレータ

JP2026077761AJP 2026077761 AJP2026077761 AJP 2026077761AJP-2026077761-A

Abstract

【課題】高いクリーン度が求められる光学粘着シートの製造に用いるのに適したセパレータを提供する。【解決手段】本発明のセパレータは、基材フィルムと、離型層とを含み、基材フィルムは、フィラーを含有せず、所定の評価方法による平面視投影の投影面における異物の投影面積の合計の割合が２０％以下である。【選択図】図１

Inventors

山村和広
藤原新
野中崇弘

Assignees

日東電工株式会社

Dates

Publication Date: 20260513
Application Date: 20260212
Priority Date: 20200930

Claims (5)

基材フィルムと、離型層とを含み、前記基材フィルムは、フィラーを含有せず、下記の評価方法による平面視投影の投影面における異物の投影面積の合計の割合が２０％以下である、セパレータ。評価方法：下記の光源とカメラデバイスとを備える装置を使用して、下記の第１ステップ～第３ステップを実施する。光源：評価用のサンプルに対して検査用光を照射するための白色ＬＥＤ光源カメラデバイス：前記検査用光のサンプル透過光およびサンプル反射光を撮像可能に配置され、且つ２.８μｍの分解能を有する、カメラデバイス第１ステップ：平面視サイズ５０ｍｍ×５０ｍｍのセパレータを評価用のサンプルとして用意し、当該サンプルにおける外方領域に囲まれた内方領域（３０ｍｍ×３０ｍｍ）を前記カメラデバイスによって撮像できる状態で、当該サンプルを前記装置にセットする。第２ステップ：前記サンプルに対して前記白色ＬＥＤ光源から前記検査用光を照射しつつ、前記カメラデバイスを用いてサンプル透過光および／またはサンプル反射光を受光して、前記内方領域にわたって受光データを取得する。第３ステップ：前記受光データを用いて、前記内方領域の平面視投影の投影面における異物の位置情報および投影像情報を導出する。
前記平面視投影において最大の異物が有する最大長さが３０μｍ以下である、請求項１に記載のセパレータ。
前記平面視投影における最大長さが２０μｍ以上３０μｍ以下の異物の個数が５以下である、請求項１または２に記載のセパレータ。
前記平面視投影における最大長さが１５μｍ以上３０μｍ以下の異物の個数が１０以下である、請求項１から３のいずれか一つに記載のセパレータ。
前記セパレータが、表面粗さＲａが２０ｎｍ以下の表面を有する、請求項１から４のいずれか一つに記載のセパレータ。

Description

本発明は、セパレータに関する。ディスプレイパネルは、画素パネルおよびカバー部材などを含む積層構造を有する。そのようなディスプレイパネルの製造過程では、積層構造に含まれる要素どうしの貼り合わせのために、例えば、透明な光学粘着シートが用いられる。光学粘着シートは、例えば、同シートの両面がセパレータ（はく離ライナー）で被覆された形態で製造される。セパレータに関する技術については、例えば下記の特許文献１に記載されている。特開２００７－２７００６４号公報本発明のセパレータの一実施形態の断面図である。図１に示すセパレータが両面に貼り合わせられた光学粘着シート（セパレータ付き光学粘着シート）の断面図である。本発明のセパレータの一実施形態としてのセパレータ１０は、図１に示すように、所定の厚さのシート形状を有し、厚さ方向Ｄと直交する方向（面方向）に延びる。セパレータ１０は、例えば、光学粘着シートの保護フィルムである。図２に、光学粘着シート２０の保護フィルムとして二枚のセパレータ１０が用いられている場合を示す。一方のセパレータ１０（セパレータ１０Ａ）は、光学粘着シート２０の厚さ方向Ｄの一方面上に配置され、他方のセパレータ１０（セパレータ１０Ｂ）は、光学粘着シート２０の厚さ方向Ｄの他方面上に配置されている。光学粘着シート２０は、光学物品の光通過箇所に配置される透明な粘着シートであり、光学物品を製造するのに用いられる。光学物品としては、例えば、ディスプレイパネルが挙げられる。ディスプレイパネルは、画素パネルおよびカバー部材などを含む積層構造を有する。ディスプレイパネルの製造過程では、画素パネルの画像表示側に配置される所定の要素どうしが、例えば光学粘着シートで貼り合わせられる。このようなディスプレイパネルには、ＶＲ（Virtual Reality）用途またはＡＲ（Augmented Reality）用途等の超高精細ディスプレイのパネルが含まれる。光学粘着シート２０の製造過程で実施される異物検査では、光学粘着シート２０の両面がセパレータ１０で保護された状態で、光学粘着シート２０に対して、同シートの一方面側からセパレータ１０越しに検査用光が照射される。検査用光としては、可視光または赤外線が用いられる。検査用光としての可視光の波長は、例えば４００～８００ｎｍの範囲内に含まれる。この可視光の光源としては、例えば白色ＬＥＤ光源が用いられる。検査用光としての赤外線の波長は、例えば８００～１２００ｎｍの範囲内に含まれる。この赤外線の光源としては、例えば赤外線ランプが用いられる。照射領域における可視光透過率または赤外線透過率の分布に基づき、光学粘着シート２０の内部および表面における異物の有無およびサイズが調べられる。このような検査において、可視光透過率または赤外線透過率の分布には、セパレータ１０の内部および表面における異物の有無およびサイズも反映される。セパレータ１０は、下記の評価方法による平面視投影の投影面における異物の投影面積の合計の割合（異物面積割合Ｒ）が２０％以下である。異物には、環境異物、原料の不純物としての異物、材料変性に起因する異物、および気泡が含まれる。環境異物としては、例えば、繊維片、皮膚片、金属微粒子、微小な油滴、および、汗に由来する塩微粒子等が挙げられる。これら異物は、セパレータや光学粘着シートにおいて、欠点と呼称される場合もある。評価方法：下記の光源とカメラデバイスとを備える評価用装置を使用して、下記の第１ステップ～第３ステップを実施する。光源：評価用のサンプルに対して検査用光を照射するための白色ＬＥＤ光源カメラデバイス：前記検査用光のサンプル透過光およびサンプル反射光を撮像可能に配置され、且つ２.８μｍの分解能を有する、カメラデバイス第１ステップ：平面視サイズ５０ｍｍ×５０ｍｍのセパレータ１０を評価用のサンプルとして用意し、当該サンプルにおける外方領域に囲まれた内方領域（３０ｍｍ×３０ｍｍ）を前記カメラデバイスによって撮像できる状態で、当該サンプルを評価用装置にセットする。第２ステップ：前記サンプルに対して前記白色ＬＥＤ光源から前記検査用光を照射しつつ、前記カメラデバイスを用いてサンプル透過光および／またはサンプル反射光を受光して、前記内方領域にわたって受光データを取得する。サンプル透過光とは、サンプルをその厚さ方向に透過する光である。サンプル反射光とは、サンプルにて反射する光である。第３ステップ：前記受光データを用いて、前記内方領域の平面視投影の投影面における異物（内方領域に存在する異物のそれぞれ）の位置情報および投影像情報を導出する。このようなセパレータ１０は、光学粘着シート（例えば、図２に示す光学粘着シート２０）に貼り合わせられた状態において、同シートについて微小な異物の有無を調べるための精密な異物検査（欠点検査）を実施するのに適する。そのようなセパレータ１０は、高いクリーン度が求められる光学粘着シートの製造に用いるのに適する。例えば、セパレータ１０は、従来に比べて格段に微小な異物（即ち欠点）の有無の検査（即ち欠点管理）が要求される光学粘着シートの製造に、用いるのに適する。光学粘着シートがディスプレイパネル用途の粘着シートである場合、セパレータ１０は、当該光学粘着シートを用いて製造されるディスプレイパネル（近年、高精細化が進んでいる）の表示画像の品質向上に役立つ。上記の評価用装置において、カメラデバイスの分解能は、上記のように２.８μｍであるが、例えば１０μｍ以下であってもよく、好ましくは５μｍ以下である。カメラデバイスは、レンズを備えてもよい（即ち、当該カメラデバイスの備える受光素子がレンズを介して受光する構成を有してもよい）。また、上記の評価用装置においては、白色ＬＥＤ光源と他色のＬＥＤ光源とを組み合わせて、上記第１～第３ステップからなる評価方法やその他の評価方法を、実施できる（他色のＬＥＤ光源としては、例えば、赤色ＬＥＤ光源および青色ＬＥＤ光源が挙げられる）。例えば、光源として他色のＬＥＤ光源を単独で使用したり、光源として２以上の複数色のＬＥＤ光源を併用することにより、検査対象によっては上述の異物検査を実施しやすくなる。上記の評価方法の第１ステップでは、例えば、評価用装置が備えるチャック機構にサンプルの外方領域を把持させることにより、サンプルを評価用装置にセットする。第２ステップでは、例えば、用いられるカメラデバイスの受光面がサンプルの内方領域に対向配置され、且つ、当該カメラデバイスにより、内方領域に沿ったスキャニングが実行される。第３ステップで導出される位置情報には、例えば、上記の投影面をＸ－Ｙ平面とするＸＹ座標情報と、当該Ｘ－Ｙ平面に直交する厚さ方向をＺ方向とするＺ座標情報とが含まれる。第３ステップで導出される投影像情報は、それに基づいて少なくとも異物の総面積を導出可能な情報であり、例えば、各異物のサイズおよび異物のサイズ分布を更に導出可能な情報である。異物面積割合Ｒは、好ましくは１８％以下、より好ましくは１５％以下、更に好ましくは１２％以下、特に好ましくは１０％以下である。上述の精密異物検査の実施の観点からは、異物面積割合Ｒは、０％に近いほど好ましい。セパレータ１０は、上記平面視投影において最大の異物が有する最大長さ（異物最大長さＬ）が、好ましくは３０μｍ以下、より好ましくは２０μｍ以下、更に好ましくは１５μｍ以下、特に好ましくは８μｍ以下である。このような構成は、光学粘着シートについて、平面視投影における最大長さが３０μｍを少し超える程度の異物（前記最大長さが例えば３３μｍ程度の異物）の有無を検査するのに適する。上述の精密異物検査の実施の観点からは、異物最大長さＬは、短いほど好ましい。セパレータ１０は、上記平面視投影における最大長さが２０μｍ以上３０μｍ以下の異物の個数（第１範囲の異物の個数Ｎ１）が、好ましくは５以下、より好ましくは４以下、更に好ましくは３以下、殊更に好ましくは２以下、特に好ましくは１以下、極めて好ましくは０である。このようなセパレータ１０は、光学粘着シートに貼り合わせられた状態において、同シートについて精密な異物検査を実施するのに適し、従って、高いクリーン度が求められる光学粘着シートの製造に用いるのに適する。セパレータ１０は、上記平面視投影における最大長さが１５μｍ以上３０μｍ以下の異物の個数（第２範囲の異物の個数Ｎ２）が、好ましくは１０以下、より好ましくは７以下、更に好ましくは４以下、殊更に好ましくは３以下、一層好ましくは２以下、特に好ましくは１以下、極めて好ましくは０である。このようなセパレータ１０は、光学粘着シートに貼り合わせられた状態において、同シートについて精密な異物検査を実施するのに適し、従って、高いクリーン度が求められる光学粘着シートの製造に用いるのに適する。セパレータ１０の内部および表面における異物コントロール（異物の有無およびサイズの制御）の方法としては、例えば、セパレータを形成する樹脂材料の種類の選択、樹脂材料のフィラーレス化、製膜に供される樹脂材料のフィルタリング径の調整、および、セパレータ製造ラインにおける空気清浄度の制御（浮遊微粒子を排気除去する制御等）が挙げられる。セパレータ１０は、本実施形態では、基材フィルム１１と離型層１２とを含む。離型層１２は、基材フィルム１１の厚さ方向Ｄの一方側に配置され、好ましくは、基材フィルム１１の厚さ方向Ｄの一方面上に配置されている。基材フィルム１１は、例えば、可撓性を有する透明な樹脂フィルムである。基材フィルム１１の樹脂材料としては、例えば、ポリオレフィン、ポリエステル、アクリル、ポリアミド、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、セルロース、変性セルロース、ポリスチレン、およびポリカーボネートが挙げられる。ポリオレフィンとしては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー（ＣＯＰ）、ポリ－１－ブテン、ポリ－４－メチル－１－ペンテン、エチレン・プロピレン共重合体、エチレン・１－ブテン共重合体、エチレン・酢酸ビニル共重合体、エチレン・エチルアクリレート共重合体、およびエチレン・ビニルアルコール共重合体が挙げられる。ポリエステルとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、およびポリブチレンテレフタレートが挙げられる。ポリアミドとしては、例えば、ポリアミド６、ポリアミド６,６、および部分芳香族ポリアミドが挙げられる。変性セルロースとしては、例えばトリアセチルセルロース（ＴＡＣ）が挙げられる。これら樹脂材料は、単独で用いられてもよいし、二種類以上が併用されてもよい。基材フィルム１１の材料としては、光学用途で用いられるクリーン度の高い材料が好ましい。高いクリーン度のセパレータ１０を得る観点から、基材フィルム１１の材料としては、好ましくは、ポリオレフィンが用いられ、より好ましくは、ＣＯＰが用いられる。また、樹脂材料は、好ましくは、フィラーを含有しないか又は実質的に含有しない。樹脂材料がフィラーを実質的に含有しないとは、樹脂材料におけるフィラー含有割合が０.０５質量％以下であることをいうものとする。一方、樹脂材料がフィラーを含有する場合、当該フィラーは、好ましくはナノフィラーである（ナノフィラーとは、最大長さ１００ｎｍ以下の粒子をいう）。これら構成は、高いクリーン度のセパレータ１０を得る観点から好ましい。基材フィルム１１の厚さは、セパレータ１０の強度を確保する観点からは、好ましくは５μｍ以上、より好ましくは１０μｍ以上、より好ましくは２０μｍ以上である。また、セパレータ１０において適度な可撓性を確保する観点からは、基材フィルム１１の厚さは、好ましくは２００μｍ以下、より好ましくは１５０μｍ以下、更に好ましくは１００μｍ以下であ