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JP-2026514974-A - 温度耐性のある較正経路光学設計

JP2026514974AJP 2026514974 AJP2026514974 AJP 2026514974AJP-2026514974-A

Abstract

少なくとも１つの試料（１１４）に関する分光情報を取得するための少なくとも１つの分光計装置（１１２）と少なくとも１つの外部較正ターゲット（１１６）とを備え、前記外部較正ターゲット（１１６）が反射率Ｒ λ，ｅｘｔ を有するキット（１１０）が開示される。 前記分光計装置（１１２）は： － 試料（１１４，１１６）からの検出光（１２０）を検出するための少なくとも１つの検出器（１１８）と； － 少なくとも１つの選択された波長範囲内の入射光を前記検出器（１１８）に転送するように構成された少なくとも１つの光フィルタ（１２４）と； － 少なくとも１つの光スペクトル範囲内で照射光（１３０）を放出するように構成された少なくとも１つの光源（１２８）と； － 前記照射光（１３０）が試料インターフェイス（１３４）によって保持された試料（１１４）を照射することを可能にするように構成され、前記試料インターフェイス（１３４）によって保持された前記試料（１１４，１１６）からの光が前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの試料インターフェイス（１３４）と； － 少なくとも１つの第１光路（１３６）であって、前記第１光路（１３６）は、前記照射光（１３０）が前記試料インターフェイス（１３４）を少なくとも１回通過することによって、前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの第１光路（１３６）と； － 反射率Ｒ λ，ｉｎｔ を有する少なくとも１つの内部較正ターゲット（１２２）と； － 少なくとも１つの第２光路（１３８）であって、前記第２光路（１３８）は、前記照射光（１３０）が前記内部較正ターゲット（１２２）と少なくとも１回相互作用することによって、前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの第２光路（１３８）と、 を備え、 前記分光計装置（１１２）は、前記外部較正ターゲット（１１６）を前記試料インターフェイス（１３４）によって保持された試料として使用することにより、前記第２光路（１３８）の少なくとも１つの初期較正を実行するように構成され、前記外部較正ターゲット（１１６）の反射率Ｒ λ，ｅｘｔ と前記内部較正ターゲット（１２２）の反射率Ｒ λ，ｉｎｔ は、 【数１】 で互いに比例し、ここで、ａは定数である。 【選択図】図１

Inventors

  • ツィマーマン，ヘンニンク
  • シュミット，フェリクス

Assignees

  • トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

Dates

Publication Date
20260513
Application Date
20240423
Priority Date
20230424

Claims (15)

  1. 少なくとも１つの試料（１１４）に関する分光情報を取得するための少なくとも１つの分光計装置（１１２）と少なくとも１つの外部較正ターゲット（１１６）とを備え、前記外部較正ターゲット（１１６）が反射率Ｒ λ，ｅｘｔ を有するキット（１１０）であって、前記分光計装置（１１２）は： － 試料（１１４，１１６）からの検出光（１２０）を検出するための少なくとも１つの検出器（１１８）と； － 少なくとも１つの選択された波長範囲内の入射光を前記検出器（１１８）に転送するように構成された少なくとも１つの光フィルタ（１２４）と； － 少なくとも１つの光スペクトル範囲内で照射光（１３０）を放出するように構成された少なくとも１つの光源（１２８）と； － 前記照射光（１３０）が試料インターフェイス（１３４）によって保持された試料（１１４，１１６）を照射することを可能にするように構成され、前記試料インターフェイス（１３４）によって保持された前記試料（１１４，１１６）からの光が前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの試料インターフェイス（１３４）と； － 少なくとも１つの第１光路（１３６）であって、前記第１光路（１３６）は、前記照射光（１３０）が前記試料インターフェイス（１３４）を少なくとも１回通過することによって、前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの第１光路（１３６）と； － 反射率Ｒ λ，ｉｎｔ を有する少なくとも１つの内部較正ターゲット（１２２）と； － 少なくとも１つの第２光路（１３８）であって、前記第２光路（１３８）は、前記照射光（１３０）が前記内部較正ターゲット（１２２）と少なくとも１回相互作用することによって、前記光フィルタ（１２４）を介して前記検出器（１１８）に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの第２光路（１３８）と、 を備え、 前記分光計装置（１１２）は、前記外部較正ターゲット（１１６）を前記試料インターフェイス（１３４）によって保持された試料として使用することにより、前記第２光路（１３８）の少なくとも１つの初期較正を実行するように構成され、前記外部較正ターゲット（１１６）の反射率Ｒ λ，ｅｘｔ と前記内部較正ターゲット（１２２）の反射率Ｒ λ，ｉｎｔ は、 で互いに比例し、ここで、ａは定数である、キット（１１０）。
  2. 前記外部較正ターゲット（１１６）の反射率Ｒ λ，ｅｘｔ と前記内部較正ターゲット（１２２）の反射率Ｒ λ，ｉｎｔ が、前記選択された波長範囲内の各波長において互いに比例する、請求項１に記載のキット（１１０）。
  3. 前記定数ａが温度及び／または波長に依存しない、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  4. 前記外部較正ターゲット（１１６）は少なくとも１つの拡散反射材料を含み、前記外部較正ターゲット（１１６）は：ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）の少なくとも１層、酸化チタンまたは硫酸バリウムの１つ以上を含む白色表面コーティングなどの少なくとも１つの光学コーティング、誘電体コーティング、少なくとも１つの部分反射誘電体ミラー、金、銀、アルミニウム、クロムの１つ以上を含む金属コーティングを有する少なくとも１つのミラー、及び少なくとも１つのビームスプリッタの１つ以上を含む、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  5. 前記内部較正ターゲット（１２２）は前記外部較正ターゲット（１１６）の反射率をエミュレートするように設計されている、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  6. 前記外部較正ターゲット（１１６）は第１材料を有し、前記内部較正ターゲット（１２２）は第２材料を有しており、前記第１材料と前記第２材料は、前記外部較正ターゲット（１１６）の反射率Ｒ λ，ｅｘｔ と前記内部較正ターゲット（１２２）の反射率Ｒ λ，ｉｎｔ が互いに比例するように、互いにマッチされている、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  7. 前記内部較正ターゲット（１２２）は少なくとも１つの拡散反射材料を含み、前記内部較正ターゲット（１２２）は：ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）の少なくとも１層、酸化チタンまたは硫酸バリウムの１つ以上を含む白色表面コーティングなどの少なくとも１つの光学コーティング、誘電体コーティング、少なくとも１つの部分反射誘電体ミラー、金、銀、アルミニウム、クロムの１つ以上を含む金属コーティングを有する少なくとも１つのミラー、及び少なくとも１つのビームスプリッタの１つ以上を含む、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  8. 前記光フィルタ（１２４）は入射角に依存する透過プロファイルを有し、前記光フィルタ（１２４）は、前記第１光路（１３６）に対する第１透過プロファイルＴ １，ＮＢＰ と、前記第２光路（１３８）に対する第２透過プロファイルＴ ２，ＮＢＰ とを有し、前記第１光路（１３６）及び前記第２光路（１３８）の前記光フィルタ（１２４）の透過プロファイルはＴ １，ＮＢＰ （λ）＝ｄ・Ｔ ２，ＮＢＰ （λ）で互いに比例し、ｄは温度、波長、または入射角のうちの１つ以上に依存しない、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  9. 前記分光計装置（１１２）は、前記検出器（１１８）によって生成される少なくとも１つの検出器信号を評価するように構成され、前記第２光路（１３８）の初期較正は、前記第１光路（１３６）を介して少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で前記外部較正ターゲット（１１６）を照射し、少なくとも１つの第１検出器信号Ｓ １，ｉ を得ることを含み、前記分光計装置（１１２）は、前記第２光路（１３８）を介して前記少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で前記検出器（１１８）を照射し、少なくとも１つの第２信号Ｓ ２，ｉ を取得ように構成され、前記評価ユニット（１２３）は、前記第１検出器信号Ｓ １，ｉ と前記第２信号Ｓ ２，ｉ を使用することによって、少なくとも１つの初期較正情報項目ｃ ｉ，ｉｎｉｔｉａｌ を決定するように構成され、前記初期較正情報項目ｃ ｉ，ｉｎｉｔｉａｌ は、前記第１検出器信号Ｓ １，ｉ と前記第２信号Ｓ ２，ｉ の比率を計算することにより決定される、請求項１または２に記載のキット（１１０）。
  10. 前記分光計装置（１１２）は、前記試料インターフェイス（１３４）によって保持される少なくとも１つの試料（１１４）に関する分光情報を： － 前記第１光路（１３６）を介して少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で前記試料（１１４）を照射し、前記検出器（１１８）を使用することによって少なくとも１つの検出器信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ を得ることと、 － 前記第２光路（１３８）を介して少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で前記内部較正ターゲット（１２２）を照射し、前記検出器（１１８）を使用することによって少なくとも１つの基準検出器信号Ｓ ｒｅｆ，ｉ を得ることと、 － 前記評価ユニット（１２３）を使用することによって、前記検出器信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ を評価することであって、前記評価は、前記検出器信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ 、前記初期較正情報項目ｃ ｉ，ｉｎｉｔｉａｌ 及び前記基準検出器信号Ｓ ｒｅｆ，ｉ を使用することによって、前記試料（１１４）の分光情報を決定する、ことと、 によって決定するように構成されている、請求項９に記載のキット（１１０）。
  11. 前記試料（１１４）の分光情報は反射率Ｒ ｓａｍｐｌｅ，ｉ であり、 である、請求項１０に記載のキット（１１０）。
  12. 分光計装置（１１２）を較正する方法であって、前記分光計装置（１１２）は請求項１または２に記載のキット（１１０）に含まれる分光計装置（１１２）であり、前記方法は： Ｉ． 試料インターフェイス（１３４）に外部較正ターゲット（１１６）を試料として提供するステップと； ＩＩ． 少なくとも１つの第１光路（１３６）を介して、少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で検出器（１１８）を照射し、少なくとも１つの第１検出器信号Ｓ １，ｉ を得る、ステップと； ＩＩＩ． 少なくとも１つの第２光路（１３８）を介して、前記少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で前記検出器（１１８）を照射し、少なくとも１つの第２信号Ｓ ２，ｉ を得る、ステップと； ＩＶ． 前記第１検出器信号Ｓ １，ｉ 及び第２検出器信号Ｓ ２，ｉ を使用することによって、少なくとも１つの初期較正情報項目ｃ ｉ，ｉｎｉｔｉａｌ を決定する、ステップと、 を含む、方法。
  13. 分光計装置（１１２）を使用することによって、少なくとも１つの試料（１１４）の少なくとも１つの分光情報を決定する方法であって、前記分光計装置（１１２）は、キット（１１０）に関する請求項１または２に記載のキット（１１０）に含まれる分光計装置（１１２）であって、前記方法は： ｉ 試料（１１４）を試料インターフェイス（１３４）に提供する、ステップと； ｉｉ 第１光路（１３６）を介して、少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で検出器（１１８）を照射し、少なくとも１つの測定信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ を得る、ステップと； ｉｉｉ 第２光路（１３８）を介して、少なくとも１つの波長λ ｉ を有する光で検出器（１１８）を照射し、少なくとも１つの基準信号Ｓ ｒｅｆ，ｉ を得る、ステップと； ｉｖ 評価ユニット（１２３）を使用することによって検出器信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ を評価するステップであって、前記評価は、前記測定信号Ｓ ｓａｍｐｌｅ，ｉ 、前記基準信号Ｓ ｒｅｆ，ｉ 、及び、請求項１２に記載の分光計装置（１１２）を較正する方法を使用することによって決定される初期較正情報項目ｃ ｉ，ｉｎｉｔｉａｌ 、を使用することによって前記試料（１１４）の分光情報を決定することを含む、ステップと、 を含む、方法。
  14. 分光計装置（１１２）を較正するためのコンピュータプログラムであって、プログラムがコンピュータまたはコンピュータネットワークによって実行されると、前記コンピュータまたはコンピュータネットワークに、分光計装置（１１２）を較正する方法に関する請求項１２に記載の分光計装置（１１２）を較正する方法、及び／または、少なくとも１つの試料（１１４）の少なくとも１つの分光情報を決定する方法に関する請求項１３に記載の少なくとも１つの試料（１１４）の少なくとも１つの分光情報を決定する方法を実行させる命令を含む、コンピュータプログラム。
  15. コンピュータ可読記憶媒体であって、命令がコンピュータまたはコンピュータネットワークによって実行されると、前記コンピュータまたはコンピュータネットワークに、分光計装置（１１２）を較正する方法に関する請求項１２に記載の分光計装置（１１２）を較正する方法、及び／または、少なくとも１つの試料（１１４）の少なくとも１つの分光情報を決定する方法に関する請求項１３に記載の少なくとも１つの試料（１１４）の少なくとも１つの分光情報を決定する方法を実行させる命令を含む、コンピュータ可読記憶媒体。

Description

本発明は、少なくとも１つの試料に関する分光情報を取得するための少なくとも１つの分光計装置と少なくとも１つの外部較正ターゲットを含むキットと、分光計装置の較正方法と、ならびに分光計装置を用いて少なくとも１つの試料の少なくとも１つの分光情報を決定するための方法と、に関する。さらに、本発明は、分光計装置を較正するためのコンピュータプログラム及びコンピュータ可読記憶媒体に関する。このような方法及び装置は、一般に、特に、赤外（ＩＲ）スペクトル領域における、特に、近赤外（ＮＩＲ）スペクトル領域における、及び可視（ＶＩＳ）スペクトル領域における調査または監視目的に使用されることができる。しかし、さらなる応用が可能である。 一般に、分光計は、光を照射、反射及び／または吸収する際に、物体からのスペクトル光組成に関する情報を収集することが知られている。複数の分光計からのスペクトルを比較できるようにするために、分光計を較正する必要がある。一般的に分光計は、波長または波数の較正（例えば記録されたスペクトルのｘ軸較正）と、信号、反射率、透過率及び／または吸光度の較正（すなわち記録されたスペクトルのｙ軸較正）を必要とする。例えば、拡散反射型近赤外分光法の分野で一般的に必要とされる、反射測定における記録されたスペクトルのｙ軸の較正は、試料位置に配置される外部反射標準を用いる場合がある。あるいは、較正は、分光計の応答を較正するために分光計自体によって測定フィールド内へ自動移動される内部較正ターゲットを用いる場合がある。 しかしながら、モバイル分光法の分野では、外部較正標準及び／または可動式内部較正ターゲットの使用が不可能な場合がある。このため、試料位置に外部較正標準を配置し、及び／または可動式内部較正ターゲットの必要がない較正スキームが知られている。これらの較正スキームは内部較正経路を使用し得る。 ＵＳ２０２１／０６３２４１Ａ１は、光源；光源によって生成された光の第一部分を測定ターゲットに導くように構成された放出光学系；測定ターゲットからの光を受光するように構成された集光光学系；光源によって生成された光の第二部分をスペクトル基準に導くように構成された光導管；スペクトル基準；センサ；及びフィルタを含む光学測定装置を記載している。フィルタの第一部分は、集光光学系とセンサの第一部分との間に設けられることができる。フィルタの第二部分は、分光基準とセンサの第二部分との間に設けられることができる。 ＵＳ２０２１／３５６３２２Ａ１は、光センサの較正方法を記載しており、該方法は、光センサの内部光源がオフになっている間に、光センサの検出器を介して外部光源の第一特性を取得することと；内部光源を駆動することと；内部光源の駆動に基づいて、検出器を介して内部光源及び外部光源の第二特性を取得することと；第一特性と第二特性に基づいて、物体の吸光度を計算するための内部光源の基準特性を取得することと、を含む。 ＵＳ２０１７／１５３１４２Ａ１は分光計の方法及び装置を記載している。多くの場合、較正カバー、付属品、または分光計の１つ以上が、それぞれ一意の識別子及び対応する較正データに関連付けられている。一意の識別子に関連付けられた較正データは、個々の分光計装置で得られた物体の測定からスペクトル情報を決定するために使用されるデータベースに保存されることができる。 既知の方法及び装置によって達成された利点にもかかわらず、いくつかの技術的課題が残っている。一般に、分光計の較正は、すべての温度において定数ｃｉ＝Ｓ１，ｉ／Ｓ２，ｉ＝ｃｏｎｓｔを目標とし、ここでｃｉは波長λｉにおけるフィルタの較正係数を指す。較正定数ｃｉが一定でない場合、分光計の較正は通常失敗する。内部較正経路を用いる較正スキームでは、較正係数は、一般的に温度に依存する光源ΦＬｉｇｈｔの分光放射束に依存する信号Ｓ１及びＳ２を用いて決定され得る。さらに、信号は、外部経路における外部反射ターゲットの反射率Ｒｅｘｔ、内部経路における内部反射ターゲットの反射率Ｒｉｎｔ、ならびに外部経路における光フィルタの透過率Ｔ２，ｆｉｌｔｅｒ及び内部経路における光フィルタの透過率Ｔ１，ｆｉｌｔｅｒに依存し得る： したがって、光源ΦＬｉｇｈｔの分光放射束は、分光放射束が温度にともなって変化すると異なる重み付けがされる。この異なる重み付けは、Ｒｅｘｔ≠Ｒｉｎｔ及び／またはＴ１，ｆｉｌｔｅｒ≠Ｔ２，ｆｉｌｔｅｒのいずれかの場合、較正係数ｃの変化を生じ得る。したがって、分光計に温度依存性光源を、入射角（ＡＯＩ）依存性光フィルタと組み合わせて使用する場合、温度変化によって分光計の較正係数のドリフトが引き起こされる可能性がある。較正係数のドリフトは、具体的には内部経路と外部経路の光の比率の温度変化を含み得る。その結果、較正係数のドリフトは記録されるスペクトルの温度誘起ドリフトを引き起こす可能性がある。これは、光源の温度依存性がその放射スペクトル(emission spectrum)にわたって変動する場合に特に重大となり得る。 さらなる任意の特徴及び実施形態は、実施形態に続く説明において、好ましくは従属請求項と併せて、より詳細に開示される。そこでは、それぞれの任意の特徴は、当業者が理解するように、任意の実現可能な組み合わせだけでなく、独立した態様で実現されてよい。本発明の範囲は、好ましい実施形態によって制限されない。実施形態は、図に概略的に示されている。そこでは、これらの図中の同一の参照番号は、同一または機能的に同等の要素を指す。 図において： 少なくとも１つの試料に関する分光情報を取得するための少なくとも１つの分光計装置と少なくとも１つの外部較正ターゲットとを含むキットの実施形態を概略的に示す図である。 分光計装置を較正する方法の実施形態のフローチャートを示す図である。 分光計装置を使用することによって少なくとも１つの試料の少なくとも１つの分光情報を決定するための方法の実施形態のフローチャートを示す図である。 実施形態の詳細な説明 図１は、少なくとも１つの試料１１４に関する分光情報を取得するための少なくとも１つの分光計装置１１２を含むキット１１０の例示的な実施形態を概略的に示す。 分光計装置１１２は、具体的には近赤外分光計であり得る。キット１１０は、分光計装置１１２に加えて、少なくとも１つの外部較正ターゲット１１６を含む。図１に示されるように、分光計装置１１２に提供される物体は、試料１１４または外部較正ターゲット１１６のいずれかであり得る。外部較正ターゲット１１６は、反射率Ｒλ，ｅｘｔを有する。 分光計装置１１２は、試料（例えば、分光計装置１１２で分析される試料１１４、または試料インターフェイス１３４によって試料として保持される外部較正ターゲット１１６）からの検出光１２０を検出するための少なくとも１つの検出器１１８を備える。分光計装置１１２はさらに、反射率Ｒλ，ｉｎｔを有する少なくとも１つの内部較正ターゲット１２２を備える。図１に示されるように、検出器１１８によって検出される検出光１２０は、試料１１４によって反射された検出光１２０、外部較正ターゲット１１６によって反射された検出光１２０、及び／または内部較正ターゲット１２２によって反射された検出光１２０を含むことができる。検出器１１８は、単一の光感受性素子(optically sensitive element)もしくは領域(area)、または複数の光感受性素子もしくは領域（図示せず）を備えてよい。具体的には、検出器１１８は、少なくとも１つの検出器アレイ、より具体的には感光素子のアレイであるか、またはそれらを備えてよい。各感光素子は、入射光の強度に応じて電気信号を生成するように適合された(adapted)少なくとも１つの光感受性領域(photosensitive area)を備えることができ、この電気信号は特に評価ユニット１２３に提供され得る。分光計装置１１２は、具体的には、検出器１１８によって生成された少なくとも１つの検出器信号を評価し、検出器信号を用いて試料１１４に関する分光情報を決定するための、少なくとも１つの評価ユニット１２３を備えることができる。 分光計装置１１２はさらに、少なくとも１つの選択された波長範囲内の入射光を検出器１１８に転送するように構成された少なくとも１つの光フィルタ１２４を備える。図１に示されるように、光フィルタ１２４は、例えば光フィルタ１２４を検出器１１８上に配置することによるなど、検出器１１８に隣接して配置され得る。光フィルタ１２４は、例として、少なくとも１つの狭帯域通過フィルタ１２６、より具体的には狭帯域通過フィルタ１２６のセットを含むことができる。狭帯域通過フィルタ１２６は、例えば１０から１００ｎｍの波長範囲、具体的には１０から５０ｎｍの波長範囲、より具体的には２０ｎｍの幅を有する波長範囲、最も具体的には１５ｎｍの幅を有する波長範囲など、狭く選択された波長範囲内の光のみを透過するように構成されている。例えば、狭帯域通過フィルタ１２６のセットにおいて、各狭帯域通過フィルタ１２６は、互いに少なくとも部分的に異なる狭帯域選択波長範囲を有し得る。 分光計装置１１２はさらに、少なくとも１つの光スペクトル範囲の照射光１３０を放出するように構成された少なくとも１つの光源１２８を備える。例えば、光源１２８は、少なくとも１つの発光ダイオード（ＬＥＤ）１３２を含むことができる。図１の例において、照射光１３０は、少なくとも部分的に近赤外スペクトル範囲に位置する光スペクトル範囲を有することができる。分光計装置１１２は、照射光１３０が、試料インターフェイス１３４によって保持される試料、例えば、試料１１４または外部較正ターゲット１１６を照射することを可能にするように構成され、及び、試料から、例えば試料１１４から、または外部較正ターゲット１１６から、の光が光フィルタ１２４を介して検出器１１８に伝播することを可能にするように構成された、少なくとも１つの試料インターフェイス１３４を有している。 図１に示されるように、分光計装置１１２は、少なくとも１つの第１光路１３６を備える。第１光路１３６は、照射光１３０が試料インターフェイス１３４を少なくとも１回通過することによって、光フィルタ１２４を介して検出器１１８に伝播できるように構成されている。分光計装置１１２はさらに、少なくとも１つの第２光路１３８を備える。第２光路１３８は、照射光１３０が、内部較正ターゲット１２２と少なくとも１回相互作用することによって、光フィルタ１２４を介して検出器１１８に伝播できるように構成されている。図１に示されるように、内部較正ターゲット１２２は分光計装置１１２の第２光路１３８内に配置され得る。 分光計装置１１２は、外部較正ターゲット１１６を試料インターフェイス１３４によって保持される試料として使用することにより、第２光路１３８の少なくとも１つの初期較正を実行するように構成されている。外部較正ターゲット１１６の反射率Ｒλ，ｅｘｔと内部較正ターゲット１２２の反射率Ｒλ，ｉｎｔは、互いに比例関係であり、 ここで、ａは定数である。 外部較正ターゲット１１６の反射率Ｒλ，ｅｘｔ及び内部較正ターゲット１２２の反射率Ｒλ，ｉｎｔは、選択された波長範囲内の各波長において互いに比例関係にあり得る。例えば、外部較正ターゲット１１６は、４００ｎｍから１５００ｎｍの範囲で９９％超（＞９９％）の反射率、２５０ｎｍから２５００ｎｍの範囲で９５％超（＞９５％）の反射率を有する標準化された拡散反射ターゲットを含むことができる。内部較正ターゲット１２２は、外部較正ターゲット１１６の反射率をエミュレートするように設計されてよい。追加的にまたは代替的に、外部較正ターゲット１