JP-WO2025248671-A5 -

Dates

Publication Date

20260512

Application Date

20240529

Description

（Ｂ４）上記ＥＢＳＤ解析結果を、市販のソフトウェア（商品名：「ＯＩＭ７．１」、株式会社ＴＳＬソリューションズ製）を用いて分析し、上記解析領域のＩＰＦマップ（Ｉｎｖｅｒｓｅ Ｐｏｌｅ Ｆｉｇｒｅ ｍａｐ：逆極点図方位マップ）を作成する。該ＩＰＦマップの作成においては、隣接する測定点の方位差角が１５°以上の場合を結晶粒界と定義する。ＩＰＦマップには、各結晶粒の形状が示され、及び各結晶粒の配向が色分けして示される。 （Ｂ５）上記ソフトウェア（「ＯＩＭ７．１」）を用いて、各解析領域のＩＰＦマップ内の全ての硬質粒子のそれぞれについて、アスペクト比を測定する。硬質粒子のアスペクト比とは、硬質粒子の長径ａと短径ｂとの比ｂ／ａである。本開示において、長径ａは、上記断面で観察される硬質粒子の最大差し渡し径であり、短径ｂは、長径ａに直交する方向に沿う硬質粒子の最大径である。本開示において、解析領域のＩＰＦマップ内の硬質粒子とは、硬質粒子の全てが解析領域のＩＰＦマップ内に存在する硬質粒子、および、硬質粒子の少なくとも一部が解析領域のＩＰＦマップ内に存在する硬質粒子の両方を含む。