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KR-102960514-B1 - CRADLE OF HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT

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Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기는 어댑터가 전자부품을 파지하는 과정이나 전자부품에 대한 파지를 해제하는 과정에서 전자부품을 지지하기 위한 지지돌기나 지지부품을 가진다. 본 발명에 따르면 어댑터가 전자부품을 파지하는 과정이나 전자부품에 대한 파지를 해제하는 과정에서 전자부품이 적절히 위치될 수 있기 때문에 제품에 대한 신뢰성이 향상된다.

Inventors

  • 나윤성
  • 조영환
  • 박승길

Assignees

  • (주)테크윙

Dates

Publication Date
20260506
Application Date
20210628

Claims (9)

  1. 안착된 어댑터를 받치는 받침프레임; 상기 받침프레임에 설치되어서 상호 대향하며, 상호 간의 간격이 좁아지거나 넓어지는 방향으로 직선 이동함으로써 어댑터를 고정하거나 고정을 해제시킬 수 있는 한 쌍의 고정레버; 및 상기 한 쌍의 고정레버 간의 간격을 넓히거나 좁히기 위한 구동력을 제공하는 구동부품; 을 포함하고, 상기 받침프레임은 어댑터에 전자부품이 안착 고정되거나 전자부품에 대한 고정이 해제되는 과정에서 전자부품을 받침으로써 전자부품의 이탈을 방지하는 지지돌기를 가지는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 받침프레임은 상기 한 쌍의 고정레버 및 상기 구동부품이 설치되는 설치판; 및 상기 설치판에 대하여 상대적으로 승강 가능하게 구비되는 받침판; 및 상기 설치판에 대하여 상기 받침판을 탄성 지지하는 탄성부재; 를 더 포함하고, 상기 지지돌기는 상기 받침판에 구비되는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 지지돌기는 전후 방향으로 복수개가 구비됨으로써 전후 방향으로 다양한 길이를 가지는 전자부품들을 지지할 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  4. 안착된 어댑터를 받치는 받침프레임; 상기 받침프레임에 설치되어서 상호 대향하며, 상호 간의 간격이 좁아지거나 넓어지는 방향으로 직선 이동함으로써 어댑터를 고정하거나 고정을 해제시킬 수 있는 한 쌍의 고정레버; 상기 한 쌍의 고정레버 간의 간격을 넓히거나 좁히기 위한 구동력을 제공하는 구동부품; 및 상기 받침프레임에 설치되어서 어댑터에 전자부품이 안착 고정되거나 전자부품에 대한 고정이 해제되는 과정에서 전자부품을 받침으로써 전자부품의 이탈을 방지하는 지지부품; 을 포함하는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  5. 제4항에 있어서, 상기 지지부품은 승강 가능하게 마련되며, 상승시에는 전자부품을 받치고 하강시에는 전자부품의 받침을 해제하는 지지돌기; 및 상기 지지돌기를 승강시키는 승강원; 을 포함하는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  6. 제4항에 있어서, 상기 지지부품은 전후 방향으로 복수개가 구비됨으로써 전후 방향으로 다양한 길이를 가지는 전자부품들을 지지할 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  7. 제4항에 있어서, 상기 지지부품은 승강 가능하게 마련되며, 상승시에는 전자부품을 받치고 하강시에는 전자부품의 받침을 해제하는 지지돌기; 및 상기 지지돌기를 승강시키는 승강원; 을 포함하고, 상기 승강원을 전후 방향으로 이동시킴으로써 궁극적으로 상기 지지돌기가 전후 방향으로 다양한 길이를 가지는 전자부품들을 지지할 수 있도록 하는 이동원; 을 더 포함하는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  8. 제1 내지 제3 항, 제5항 또는 제7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 지지돌기는 전자부품의 전단에 있는 매케니컬 라운드 패드부위를 지지할 수 있는 지점에 위치하는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.
  9. 제1 항 내지 제7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 받침프레임은 전자부품의 특정 부위를 지지할 수 있는 턱을 가진 턱돌기를 가지며, 상기 턱돌기는 고정되어 있는 전자부품 테스트용 핸들러의 거치기.

Description

전자부품 테스트용 핸들러의 거치기{CRADLE OF HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT} 본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에서 사용될 수 있는 거치기에 관한 것이다. 생산된 전자부품(예를 들면 반도체소자, 기판, SSD 등)은 테스터에 의해 테스트된 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다. 전자부품은 테스터에 전기적으로 연결되어야만 테스트될 수 있는데, 이 때 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시킴으로써 전자부품이 테스트될 수 있게 지원하는 장비가 전자부품 테스트용 핸들러(이하 '핸들러'라 약칭함)이다. 핸들러는 새로운 전자부품의 개발에 따라 동반에서 제안 및 제작되고 있으며, 안정화를 위한 다양한 차후 개발들이 이루어지고 있다. 근자에 들어 여러 전자소자들이 탑재된 대형의 전자부품인 에스에스디(SSD : Solid State Drive)의 보급이 확대되고 있는 추세이다. 초기 에스에스디의 수요가 적어서 소량만이 생산되었을 때는 에스에스디를 수작업에 의해 직접 테스터에 전기적으로 연결시키고 그 연결을 해제하였으나, 그 수요가 폭증하면서 수작업에 의한 테스트의 지원은 곤란한 상태에 이르렀다. 그런데, 에스에스디의 두께, 구조 및 무게 등이 종래의 전자부품들과는 달라서 종래의 핸들러를 그대로 적용할 수가 없었기 때문에, 에스에스디와 같은 대형 전자부품의 테스트 지원에 적합한 핸들러 개발하여 대한민국 공개특허 10-2019-0050483호 및 10-2019-0061291호로 제안한 바 있다. 한편, 에스에스디의 경우 탑재된 전자소자의 종류나 그 전용 용도 등에 따라 다양한 규격을 가질 수 있는데, 그러한 다양한 규격의 전자부품에 대한 테스트를 지원하기 위한 핸들러가 요구된다. 그러나 핸들러는 고가이고 그 규모가 크기 때문에 생산 비용 및 설치 장소 등을 고려하여 다양한 규격을 가지는 전자부품들의 테스트를 하나의 핸들러에서 소화할 수 있는 기술에 대한 요구가 있을 것으로 예상된다. 또한, 각각 규격이 다른 전자부품을 테스트하기 위해서는 해당 전자부품의 규격에 맞는 부품들의 교체가 필요하고, 부품의 교체가 필요 없다고 하더라도 새로운 전자부품의 공급을 위한 휴지 시간이 요구된다. 이에 따라 핸들러와 테스터의 가동률이 하락하고, 잡다한 인력의 손실이 발생하기 때문에 핸들러의 1주기 가동이나 연속적인 가동 시에도 별도의 휴지 시간이 요구되지 않는 핸들러에 대한 요구도 있을 것을 예상된다. 또한, 종래 소품종 대량 생산 제품인 반도체소자의 경우 수 백개 이상의 반도체소자를 실을 수 있는 테스트트레이를 구비시키고, 다수의 픽커로 직접 반도체소자들을 파지하여 테스트트레이의 인서트에 삽입시키는 방식을 취한다. 이러한 시스템에서는 반도체소자의 정밀한 위치를 인서트에서도 잡아주고, 테스터와의 연결 과정에서도 잡아주기 때문에 다소 정밀성이 떨어져도 문제가 되지는 않았다. 그러나 반도체소자를 포함한 전자부품은 적용 장치의 다양성에 대응하여 점차 다품종 소량 생산화 되는 추세인데다가 여러 종류의 테스트를 거쳐야하는 경우가 발생되는데, 모든 테스터의 테스트소켓이 동일한 위치에 존재함이 아니다보니, 전자부품의 종류나 테스터의 종류별로 고가의 테스트트레이의 제작과 그에 맞는 핸들러를 갖추어야만 했다. 이를 고려하지 아니하고, 그립퍼로 직접 전자부품을 파지한 상태에서 테스트소켓에 전자부품을 연결시키는 것은 상당한 문제점이 있음이 그간의 연구를 통해 확인되었다. 예를 들어, 전자부품은 다양한 종류만큼 다양한 길이와 폭을 지니며, 제작의 특성상 동일 종류의 전자부품이라 하여도 가공오차 등으로 그 크기가 100%일치하게 제작되기가 어렵다. 그러나 이러한 상황을 고려하지 않고, 그립퍼로 전자부품을 파지하려는 경우 전자부품을 제대로 파지하지 못하여 소실되거나 너무 강한 가압력에 의해 전자부품이 파손되기도 한다. 물론, 그립퍼가 전자부품을 잘 파지하도록 조절한다고 하더라도, 전자부품의 어느 부위를 파지하느냐, 그 파지의 강도가 얼마냐에 따라서 전자부품이 파지와 함께 뒤틀리거나 회전하는 등의 상황이 발생되어 그립퍼로 파지한 전자부품이 테스트소켓에 정밀하게 접촉하기 어렵다는 단점이 확인되었다. 이를 개선하기 위해서는 구동부가 정밀하게 제어될 수 있어야 하고, 모든 전자부품에 대응되어야 하므로 구동축도 매우 길어야만 한다. 그리고 파손이나 뒤틀어짐, 요구되지 않는 회전 방지를 위해 상황별 토크제어까지도 가능한 고가의 모터를 사용할 필요성이 있다. 그러나 이러한 점은 장비의 비대화와 함께 높은 생산단가를 요구하기 때문에 실효성이 없다. 또한, 그립퍼에 의한 전자부품의 정확한 파지위치 등을 설정하기 위한 오토티칭까지 이루어지도록 하여 정밀한 접촉을 하도록 구현하여야 하는데, 이는 실로 막대한 비용과 기술력을 요하는 부분이다. 따라서 본 발명의 출원인은 앞서 특허출원 10-2020-0073725호로 범용성이 있는 핸들러를 구현할 수 있도록 핸들러에 어댑터를 구비시키는 발명(이하 '선출원기술'이라 함, 현재 공개되지 아니한 상태임)을 제안한 바 있다. 어댑터는 전자부품을 테스터로 공급하는데 사용되는 캐리어로서 기능하도록 고안되었으며, 핸들러가 크기가 다른 많은 종류의 전자부품들에 적응될 수 있게 함으로써 핸들러의 사용성을 크게 증가시키는 데 기여할 것으로 예측된다. 그런데, 거치기에 안착되어 있는 어댑터로 전자부품을 안착시키거나 어댑터로부터 전자부품을 인출할 때, 어댑터가 전자부품을 파지하는 직전이나 파지를 해제한 직후 전자부품이 제 위치에 제대로 있지 못하고 이탈할 위험성이 있다. 도 1은 전자부품과 테스터 간의 전기적인 연결 구조를 설명하기 위한 참조도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 구조도이다. 도 3은 도 2의 핸들러에 대한 개략적인 사시도이다. 도 4는 도 2의 핸들러에 있는 연결부분에 대한 개념적인 평면도이다. 도 5는 도 4의 연결부분에 있는 주요부위에 대한 발췌 사시도이다. 도 6은 도 2의 핸들러에 적용될 수 있는 어댑터에 대한 발췌 사시도이다. 도 7은 도 6의 어댑터에 대한 분해도이다. 도 8은 도 6의 어댑터에 구성된 파지부재의 안내홈을 설명하기 위한 참조도이다. 도 9 및 도 10은 도 4의 연결부분에 있는 본 발명의 제1 실시예에 따른 거치기에 대한 발췌도이다. 도 11은 도 9의 거치기에 적용된 받침프레임에 대한 발췌도이다. 도 12는 도 11의 거치기가 전자부품을 지지하는 상태를 설명하기 위한 참조도이다. 도 13은 도 4의 연결부분에 있는 본 발명의 제2 실시예에 따른 거치기에 대한 개념적인 측면도이다. 도 14는 도 13의 거치기가 전자부품을 지지하는 상태를 설명하기 위한 참조도이다. 도 15는 도 13에 도시된 거치기를 응용한 응용예에 따른 거치기에 대한 개념적인 측면도이다. 도 16은 도 15의 거치기가 전자부품을 지지하는 상태를 설명하기 위한 참조도이다. 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복 또는 실질적으로 동일한 구성에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축한다. <전자부품과 테스터의 전기적인 연결에 대한 설명> 본 발명에 따른 거치기가 적용되는 핸들러는 에스에스디(SSD : Solid State Drive)와 같이 전자부품의 접촉단자 측 부위가 테스터의 테스트슬릿에 삽입되는 방식일 경우에 보다 적절히 사용된다. 예를 들면, 도 1에서와 같이, 테스터(TESTER)에는 테스트슬릿(TS)이 구비되고, 해당 테스트슬릿(TS)에 전자부품(ED)의 단자부위(T)가 삽입됨으로써 전자부품(ED)과 테스터(TESTER)가 전기적으로 연결된다. <핸들러의 전체적인 구성에 대한 개략적인 설명> 도 2는 본 발명에 따른 거치기가 적용될 수 있는 핸들러(HR)에 대한 개략적인 평면도이고, 도 3은 도 2의 핸들러(HR)에 대한 개략적인 입체도이다. 핸들러(HR)는 스택커부분(SP), 연결부분(CP) 및 이송부분(TP)을 포함한다. 스택커부분(SP)은 전자부품(ED)들이 안착되어 있는 고객트레이(CT)들을 수납한다. 이러한 스택커부분(SP)은 테스트되어야 할 전자부품(ED)들이 안착된 고객트레이(CT)들을 외부에서 받거나, 테스트가 완료된 전자부품(ED)들이 안착된 고객트레이(CT)들을 외부로 보내기 위해 사용된다. 또한, 스택커부분(SP)은 외부에서 반입되어 왔거나 외부로 반출될 고객트레이(CT)들을 보관하는 용도로서도 사용된다. 연결부분(CP)은 스택커부분(SP)으로부터 온 고객트레이(CT)로부터 전자부품(ED)을 인출하여 후방에 있는 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결하거나, 테스터(TESTER)에 의해 테스트가 완료된 전자부품(ED)들을 테스트 등급별로 분류하면서 고객트레이(CT)로 안착시킨다. 그리고 이 연결부분(CP)에 본 발명에 따른 거치기가 구비된다. 이송부분(TP)은 스택커부분(SP)과 연결부분(CP) 간에 고객트레이(CT)를 이송시킨다. 즉, 테스트되어야 할 전자부품(ED)들이 안착되어 있는 고객트레이(CT)들은 이송부분(TP)에 의해서 스택커부분(SP)에서 연결부분(CP)으로 공급되고, 테스트가 완료된 전자부품(ED)들이 안착되어 있는 고객트레이(CT)들은 이송부분(TP)에 의해 연결부분(CP)에서 스택커부분(SP)으로 회수된다. <연결부분에 대한 설명> 도 4는 연결부부분(CP)에 대한 개념적인 평면도이고, 도 5는 도 4의 연결부분(CP)에서 주요 구성 부위(I)를 별도로 발췌한 발췌도이다. 도 4 및 도 5에서와 같이, 연결부분(CP)은 어댑터(100), 본 발명에 따른 거치기(200), 이동핸드(300), 개방기(400), 회전기(500), 이동기(600) 및 테스트핸드(700)를 포함한다. 여기서 거치기(200), 개방기(400), 회전기(500) 및 이동기(600)는 도 5에서와 같이 상호 결합되는 구조로 한 몸뚱어리를 이루고 있다. 어댑터(100)는 다양한 종류의 전자부품(ED)을 이동시키는데 사용되는 캐리어로서 구비된다. 어댑터(100)에는 한 개의 전자부품(ED)이 안착 고정되거나 반대로 이탈될 수 있다. 이 어댑터(100)와 관련해서는 후에 더 자세히 설명한다. 거치기(200)는 어댑터(100)를 고정하여 거치시키기 위해 구